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當前位置:首頁產品中心熱分析儀EGA-熱分析聯用儀L40 EGA In-Situ原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術

原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術

產品簡介:原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術,集成FTIR、拉曼光譜與ELIF等多元測量技術,通過光學原位窗口實現高達1600℃的實時在線氣體分析。該方案無需氣體冷卻,有效避免冷凝污染與平衡移動,能夠精準檢測包括極性/非極性分子及堿性化合物在內的多種逸出氣體成分,為高溫反應過程提供更精確的原位分析結果。

產品型號:L40 EGA In-Situ

更新時間:2025-10-21

廠商性質:生產廠家

訪問量:29

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原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術                        

原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


可行的技術:

傅里葉變換紅外光譜法(FTIR):傅里葉變換紅外光譜技術,可測量基本氣體成分和痕量氣體成分,檢測限可達百萬分比濃度(ppm)范圍(例如H?O、CO?、CO、H?S等)。樣品中需存在極性分子鍵。拉曼


光譜法:可測量基本氣體成分。像H?或N?這類非極性分子也可測量。


準分子激光誘導裂解熒光法(ELIF):一種基于紫外激光的測量氣態堿性化合物的方法(例如 NaCl、NaOH、KCl、KOH)。使用紫外藍寶石激光器,在 193 nm 波長下也可進行測量。


光學原位窗口的優勢:

無需對測量氣體進行冷卻或改性處理(例如,不會出現氣體冷凝、無過渡反應、無平衡移動),現在許多具有高冷凝溫度的物質,例如堿金屬(鈉(Na)、鉀(K)及其化合物)都能夠進行測量。


加熱毛細管解決方案僅適用于 200 至 250 ℃ 的測量環境,而光學端口可支持高達 1600 ℃ 的測量。


不會對測量系統造成干擾(例如,在通過真空抽取氣體時),不會導致毛細管內的測量氣體污染質譜儀(M/S)或傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR),可進行實時在線測量(測量氣體進入測量設備時不存在時間延遲)


原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術  獨特功能

  • 原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


    與測量系統無交互作用:防止樣品氣體受到污染或發生變化。

  • 原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


    多元測量方法:使用傅立葉變換紅外光譜、拉曼光譜和 ELIF 。

  • 原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


    實時在線測量:立即得出結果,無需等待。

  • 原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


    無需冷卻:避免樣品氣體發生變化,從而能夠實現更精確的測量。高溫測量:可進行高達 1600 ℃ 的測量,非常適合用于冷凝溫度高的材料。

  • 原位逸出氣體分析(EGA)- 聯用技術


    高溫測量:可進行高達 1600 ℃ 的測量,非常適合用于冷凝溫度高的材料。


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